HAST 試驗(yàn)箱（高壓加速老化試驗(yàn)箱）通過(guò)營(yíng)造高溫、高壓、高濕的極端環(huán)境，加速材料與產(chǎn)品的老化進(jìn)程，能在短時(shí)間內(nèi)評(píng)估其長(zhǎng)期可靠性，是電子、醫(yī)療等領(lǐng)域進(jìn)行可靠性測(cè)試的核心設(shè)備。

其工作機(jī)制基于飽和蒸汽壓力與溫度的協(xié)同作用。HAST 試驗(yàn)箱內(nèi)通過(guò)加熱產(chǎn)生飽和蒸汽，使壓力維持在 2-4 個(gè)大氣壓，溫度可達(dá) 121℃-143℃，相對(duì)濕度保持 100%。這種環(huán)境能快速穿透產(chǎn)品表層，加速水分子對(duì)材料的侵蝕，尤其是對(duì)密封件、焊點(diǎn)和絕緣層的老化影響。控制系統(tǒng)通過(guò)精準(zhǔn)調(diào)節(jié)加熱功率與蒸汽流量，實(shí)現(xiàn)溫度波動(dòng)≤±0.5℃、壓力波動(dòng)≤±0.02MPa 的穩(wěn)定環(huán)境，滿(mǎn)足不同行業(yè)的加速老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

在半導(dǎo)體封裝測(cè)試中，HAST 試驗(yàn)箱用于驗(yàn)證芯片的密封性與耐濕性。通過(guò) 72 小時(shí)的 132℃/2.1bar 條件測(cè)試，可檢測(cè)芯片封裝是否存在微縫，避免水汽滲入導(dǎo)致的電路短路。測(cè)試后需檢測(cè)芯片的電參數(shù)變化，確保其功能正常，引腳間絕緣電阻保持在 10?Ω 以上。

醫(yī)療器械領(lǐng)域中，該設(shè)備用于測(cè)試植入式電子元件的穩(wěn)定性。針對(duì)心臟起搏器、神經(jīng)刺激器等產(chǎn)品，在 121℃/1.05bar 環(huán)境下進(jìn)行 100 小時(shí)加速老化，評(píng)估其密封性能與電路可靠性。測(cè)試后需驗(yàn)證元件的電池續(xù)航能力、信號(hào)傳輸精度是否符合臨床標(biāo)準(zhǔn)，確保植入后長(zhǎng)期安全運(yùn)行。

電子連接器的可靠性驗(yàn)證依賴(lài) HAST 試驗(yàn)箱。在 143℃/3.2bar 條件下進(jìn)行 50 小時(shí)測(cè)試，可加速連接器觸點(diǎn)的氧化與絕緣材料的老化。測(cè)試后需檢測(cè)插拔力變化（增幅≤20%）、接觸電阻（≤50mΩ）及絕緣電阻（≥100MΩ），確保連接器在潮濕環(huán)境中保持穩(wěn)定導(dǎo)電性能。

傳感器封裝測(cè)試中，HAST 試驗(yàn)箱用于評(píng)估其耐濕熱能力。對(duì)溫濕度傳感器、壓力傳感器等進(jìn)行 125℃/1.2bar 條件下的 96 小時(shí)測(cè)試，檢測(cè)其測(cè)量精度偏差（應(yīng)≤±2%）與響應(yīng)速度變化，確保在高濕環(huán)境中仍能保持精準(zhǔn)傳感性能。

HAST 試驗(yàn)箱通過(guò)壓縮時(shí)間維度的老化測(cè)試，為半導(dǎo)體、醫(yī)療、電子等行業(yè)提供高效的可靠性驗(yàn)證方案，幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，優(yōu)化封裝工藝與材料選擇，顯著提升產(chǎn)品的長(zhǎng)期使用可靠性。